1、千分尺在测量前，必须校对其零位，即通常所说的“对零位”。其方法如下：
1、 对于测量范围0~25mm的千分尺，转动微分筒，当测杆和测砧两测量面快要接触时，转动测力机构，使两测量面轻轻地接触，当测力机构发出“咔咔”的爬动声后，即可读数。这时微分筒的零刻线应与固定套管的基准线重合，微分筒端面也恰好与固定套管的零刻线右边缘相切或者微分筒的端面离开(离线)或盖住(压线)固定套管的零刻线，但离线不得大于0.1mm，压线不得大于0.05mm。如果零位不符合要求，则应对零位进行调整。
2、对于测量范围大于25mm的千分尺，应该在测杆和测砧两测量面间安放尺寸为其测量下限的调整量具(又称校对棒或校对量杆)后进行。
如零位不准，则按下述步骤进行调整。
1-测微螺杆;2-微分筒;3-弹簧套;4一紧固螺丝;5-小孔;6-测力装置
3、 ①使用测力装置，转动测微螺杆1(图12-23)使测杆和测砧两测量面接触。
4、②锁紧测微螺杆。
5、③用千分尺的专用扳手插人固定套管的小孔内，扳转固定套管，使固定套管纵刻线与微分筒上零线对准。
6、④若偏离零线较大时，需用小起子将固定套管上的紧固螺丝松脱，并使测微螺杆与微分筒松动，转动微分筒，进行初步调整(即粗调)，然后按上述步进行微调。
7、⑤调整零位，必须使微分筒的棱边与固定套管上零刻线重合，同时要使微分筒上零线对准固定套管上纵刻线。
